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Insgesamt wurden über 35.000 Karten in 20 verschiedenen Testkombinationen aufgebaut, getestet, analysiert und bewertet. So konnten Ausfallraten und Fehlerbilder, die in internationalen Smartcard-Projekten mit mehr als 50 Millionen Karten im täglichen Gebrauch zu finden sind, mithilfe der im Projekt entwickelten neuartigen Testsequenzen außergewöhnlich sicher und genau bestätigt werden.
„Künftig fließen unsere Forschungsergebnisse von SeManTiK daher in die Arbeit der internationalen Standardisierungsgremien der Smartcard-Industrie ein und sind ein Beleg für die Innovationsführerschaft der Bundesdruckerei“, erklärt Joachim Kloeser, Gesamtprojektleiter und Koordinator bei der Bundesdruckerei. Kartenhersteller können durch SeManTiK die Langlebigkeit der Dokumente besser simulieren als bisher und bei Bedarf Anpassungen am Design vornehmen.
„Wenn kontaktlose eIDs künftig mehrfach täglich genutzt werden sollen, müssen sie wesentlich stärkeren Belastungen standhalten“, erklärt Peter Stampka, Initiator und Projektleiter bei Infineon Technologies in Regensburg. „Die Ergebnisse von SeManTiK helfen die mechanische Belastbarkeit der kontaktlosen eIDs zu verbessern und sind damit auch ein wichtiger Schritt zur Gleichstellung optischer und elektronischer Sicherheit von Identitätsdokumenten.“
Das Projekt SeManTiK wurde vom Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF) mit 1,8 Mio. Euro über eine Laufzeit von 2,5 Jahren gefördert. Der Förderschwerpunkt „Mensch-Technik-Interaktion“ adressiert neuartige Technologien in einem interdisziplinären Forschungs- und Handlungsansatz. Im Mittelpunkt stehen technische Innovationen, die in Kombination mit sozialen Innovationen auf die besonderen Herausforderungen antworten, die mit einer Gesellschaft im demografischen Wandel einhergehen. Auch die Expertise des Bundeskriminalamts für forensische und methodische Analysen sowie das Wissen von Specialty Films der Bayer MaterialScience AG rund um Trägermaterialien sind in die Forschungsarbeit eingeflossen.
www.bundesdruckerei.de
www.infineon.com
http://www.izm.fraunhofer.de