Der nächste Interoperabilitätstest der neuen elektronischen Pässe mit biometrischen Daten soll vom 29. Mai bis 1. Juni in Berlin stattfinden und der genauste und strengste Test bisher werden, berichtet das Magazin Card Technology. Das Magazin beruft sich auf Gary McDonald, den Chairman der New Technologies Working Group(NTWG) der International Civil Aviation Organization (ICAO). Die NTWG beaufsichtigt die Entwicklung der Standards der neuen ePässe. In dem Test sollen nur Pässe mit reifer und voll entwickelter Technologie getestet werden, ePässe mit weniger ausgereifter Technologie würden eventuell in anderen Testverfahren überprüft. Das Testdesign für den Test in Berlin sei noch in der Entwicklung.